透射电镜的图像和扫描电镜的图像怎样看
建议你用DM软件。SEM的放大倍数一般比TEM要小。
SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别
xrd是x射线衍射，可以分析物相，SEM是扫描电镜，主要是观察显微组织，TEM是透射电镜，主要观察超限微结构。AES是指能谱，主要分析浓度分布。STM扫描隧道显微镜，也是观察超微结构的。AFM是原子力显微镜，主要是观察表面形貌用的-----回答的不是很全。
如何用Image-Pro Plus，Image J分析WESTERN 图
条带分析最好使用其它更为专业的软件（比如nebular提供的Labworks，Quantity one等），但是对于Western这种简单的条带，IPP完全可以分析，只是复杂一点：
1 选用指标为IOD，故首先将系统的灰度设定改过来，（改为
0 白，255黑）
2 确定背景的灰度（在背景区域选择一个AOI）
3 Histogram显示，平均灰度为66；所以，要通过Operation的功能，将待分析的所有膜照片的背景均加或减到某一固定值（由自己确定，方法见以前的介绍）
4 通过Operation处理后，在Segmentation下，确定阳性区域的范围（所有的图像都应该统一；我选择的是0-98）
5 选择Transparent on white,Create preview image
6 注意新生成的图片不是灰度图，还要经过转换
7 自由AOI，勾画出大概的轮廓即可
8 Histogram，Sum值即为需要的阳性区域IOD
9 改变区域大小，Sum值变化不大（原因为白色背景的IOD均为0） 10 其他条带也通过类似的方法分析；最后求出阳性区域IOD与内参IOD的比值，用于统计学分析。 整个分析的关键在于背景灰度的统一与分割时的一点小技巧；如果没有经过Segmentation而直接用自由AOI主观地确定条带的边界，是不可取的。
怎么判断SEM图中原子大小
把图像保存下来.然后按比例尺量.国际上都是这么干的.
SEM扫描电镜图怎么看，图上各参数都代表什么意思
1、放大率： 与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。 所以，SEM中，透镜与放大率无关。
2、场深： 在SEM中，位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深，通常为几纳米厚，所以，SEM可以用于纳米级样品的三维成像。
3、作用体积： 电子束不仅仅与样品表层原子发生作用，它实际上与一定厚度范围内的样品原子发生作用，所以存在一个作用“体积”。
4、工作距离： 工作距离指从物镜到样品最高点的垂直距离。 如果增加工作距离，可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。如果减少工作距离，则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间。
5、成象： 次级电子和背散射电子可以用于成象，但后者不如前者，所以通常使用次级电子。
6、表面分析： 欧革电子、特征X射线、背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关，所以可以用于成分分析。但由于电子束只能穿透样品表面很浅的一层（参见作用体积），所以只能用于表面分析。 表面分析以特征X射线分析最常用，所用到的探测器有两种：能谱分析仪与波谱分析仪。前者速度快但精度不高，后者非常精确，可以检测到“痕迹元素”的存在但耗时太长。 观察方法： 如果图像是规则的（具螺旋对称的活体高分子物质或结晶），则将电镜像放在光衍射计上可容易地观察图像的平行周期性。 尤其用光过滤法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，将其他部分遮蔽使重新衍射，则会得到背景干扰少的鲜明图像。 扩展资料： SEM扫描电镜图的分析方法： 从干扰严重的电镜照片中找出真实图像的方法。在电镜照片中，有时因为背景干扰严重，只用肉眼观察不能判断出目的物的图像。 图像与其衍射像之间存在着数学的傅立叶变换关系，所以将电镜像用光度计扫描，使各点的浓淡数值化，将之进行傅立叶变换，便可求出衍射像〔衍射斑的强度（振幅的2乘）和其相位〕。 将其相位与从电子衍射或X射线衍射强度所得的振幅组合起来进行傅立叶变换，则会得到更鲜明的图像。此法对属于活体膜之一的紫膜等一些由二维结晶所成的材料特别适用。 扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。 参考资料：搜狗百科-扫描电子显微镜
新手求助，如何判别金属断口SEM形貌
已经断开的的试样可以用锯子把断裂截面切下来（1cm左右厚），然后就可以放到SEM里观察了。至于没断开，仅仅开裂的试样，恐怕只能从式样表面观察一下了，同样也是用句子把含有裂纹的部分切下来即可。时间久了的最大问题是氧化，但是作为SEM观察，其实氧化也无所谓了，重要的是注意，别把断口碰了，以免裂纹表面形貌损坏。关于寻找裂纹源其实很简单，疲劳端口上通常分为裂纹起始区，裂纹扩展区和瞬断区。裂纹起始区用肉眼看往往呈现为一个光亮的小点，在材料表面或者表面以下一点点的地方。如果楼主在断口上看到有放射状分布纹理，那么这些纹理发散开去的方向是裂纹扩展的防线，这些纹理汇聚的点就是疲劳源了。 查看>>
怎样对JPEG格式图像的数据流进行分析和处理，流程和算法是什么？
JPEG(Joint Photographic Experts Group) 是一个由 ISO和IEC两个组织机构联合组成的一个专家组，负责制定静态的数字图像数据压缩编码标准，这个专家组开发的算法称为JPEG算法，并且成为国际上通用的标准，因此又称为JPEG标准。JPEG是一个适用范围很广的静态图像数据压缩标准，既可用于灰度图像又可用于彩色图像。 JPEG专家组开发了两种基本的压缩算法，一种是采用以离散余弦变换(Discrete Cosine Transform，DCT)为基础的有损压缩算法，另一种是采用以预测技术为基础的无损压缩算法。使用有损压缩算法时，在压缩比为25:1的情况下，压缩后还原得到的图像与原始图像相比较，非图像专家难于找出它们之间的区别，因此得到了广泛的应用。例如，在V-CD和DVD-Video电视图像压缩技术中，就使用JPEG的有损压缩算法来取消空间方向上的冗余数据。为了在保证图像质量的前提下进一步提高压缩比，近年来JPEG专家组正在制定JPEG 2000(简称JP 2000)标准，这个标准中将采用小波变换(wavelet)算法。 JPEG压缩是有损压缩，它利用了人的视角系统的特性，使用量化和无损压缩编码相结合来去掉视角的冗余信息和数据本身的冗余信息。压缩编码大致分成三个步骤：
1.使用正向离散余弦变换(forward discrete cosine transform，FDCT)把空间域表示的图变换成频率域表示的图。
2.使用加权函数对DCT系数进行量化，这个加权函数对于人的视觉系统是最佳的。
3.使用霍夫曼可变字长编码器对量化系数进行编码。 译码或者叫做解压缩的过程与压缩编码过程正好相反。 JPEG算法与彩色空间无关，因此“RGB到YUV变换”和“YUV到RGB变换”不包含在JPEG算法中。JPEG算法处理的彩色图像是单独的彩色分量图像，因此它可以压缩来自不同彩色空间的数据，如RGB, YCbCr和CMYK。 JPEG压缩编码算法的主要计算步骤如下：
1.正向离散余弦变换(FDCT)。
2.量化(quantization)。
3.Z字形编码(zigzag scan)。
4.使用差分脉冲编码调制(differential pulse code modulation，DPCM)对直流系数(DC)进行编码。
5.使用行程长度编码(run-length encoding，RLE)对交流系数(AC)进行编码。
6.熵编码(entropy coding)。
2. 量化 量化是对经过FDCT变换后的频率系数进行量化。量化的目的是减小非“0”系数的幅度以及增加“0”值系数的数目。量化是图像质量下降的最主要原因。 对于有损压缩算法，JPEG算法使用均匀量化器进行量化，量化步距是按照系数所在的位置和每种颜色分量的色调值来确定。因为人眼对亮度信号比对色差信号更敏感，因此使用了两种量化表：亮度量化值和色差量化值。此外，由于人眼对低频分量的图像比对高频分量的图像更敏感，因此图中的左上角的量化步距要比右下角的量化步距小。
3. Z字形编排 量化后的系数要重新编排，目的是为了增加连续的“0”系数的个数，就是“0”的游程长度，方法是按照Z字形的式样编排，如图5-17所示。这样就把一个
8 ? 8的矩阵变成一个
1 ? 64的矢量，频率较低的系数放在矢量的顶部。
4. 直流系数的编码
8 ? 8图像块经过DCT变换之后得到的DC直流系数有两个特点，一是系数的数值比较大，二是相邻
8 ? 8图像块的DC系数值变化不大。根据这个特点，JPEG算法使用了差分脉冲调制编码(DPCM)技术，对相邻图像块之间量化DC系数的差值(Delta)进行编码， Delta＝DC(
0, 0)k-DC(
0, 0)k-1 ........ (5-5)
5. 交流系数的编码 量化AC系数的特点是
1 ? 64矢量中包含有许多“0”系数，并且许多“0”是连续的，因此使用非常简单和直观的游程长度编码(RLE)对它们进行编码。 JPEG使用了1个字节的高4位来表示连续“0”的个数，而使用它的低4位来表示编码下一个非“0”系数所需要的位数，跟在它后面的是量化AC系数的数值。
6. 熵编码 使用熵编码还可以对DPCM编码后的直流DC系数和RLE编码后的交流AC系数作进一步的压缩。 在JPEG有损压缩算法中，使用霍夫曼编码器来减少熵。使用霍夫曼编码器的理由是可以使用很简单的查表(lookup table)方法进行编码。压缩数据符号时，霍夫曼编码器对出现频度比较高的符号分配比较短的代码，而对出现频度较低的符号分配比较长的代码。这种可变长度的霍夫曼码表可以事先进行定义。
SEM+EDS分析是什么意思
SEM(scanning electron microscope):扫描式电子显微镜EDS(Energy Dispersive Spectrometer):X光微区分析
SEM的图像类型和特点是什么？ 我是物理凝聚态纳米材料方向的学生，用SEM分析晶体结构等。
扫描电子显微镜（SEM）是一种区别于光学显微镜的设备，主要原理是根据电子束在样品表面形成的不同信号分析得到不同的颜色深浅度，从而得到放大倍数极大的数据。一般情况下可以达到两万倍放大，最大可以达到二十万倍率放大倍数。 通过对不同样品的扫描分析，可以得到极为有效的数据对比。 =================== 详情可以从图书馆找一本叫做《现代材料分析方法》（或者《材料分析测试技术》）的书随便哪个的都行，打开里面会有XRD、TDA、SEM,TEM,的详细介绍 ========== 纯手打
这个SEM图片右下角的数字分别代表什么，在分析起什么作用
就是标尺还有放大倍数啊。。倍数一般不用，因为不同厂家倍数定义不太一样，标尺最后要加上去的
怎么算sem的分辨率
分辨率？sem是搜索竞价排名，你说的是点击率ctr吧，等于点击量除以展示量
用SEM照片能进行粒度分析？
有两种方法可以知道：
1。 拍扫描电镜照片或透射电镜照片， 用上边的比例尺来计算。然后通过Photoshop软件 进行二值化处理，通过分析会得到很好的结果。
2. 用实验仪器 分析粒度的仪器多的很，我们通常用激光粒度仪。
sem和tem都可以用来分析材料的显微结构，其原理和应用特性各有什么迥异
XRD可以做定性，定量分析。即可以分析合金里面的相成分和含量,可以测定晶格参数,可以测定结构方向知、含量，可以测定材料的内应力，材料晶体的大小等等。一般主要是用来分析合金里面的相成分和含量。道 样品制备： 通常定量分析的样品细度应在1微米左右，即应过320目筛。 SEM是利用电子和物质的相互作用，可以获取被测样品本身的回各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。主要答是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。
扫描电镜图片如何分析
第
一、扫描电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。 一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。 背散射电子像主要反映样品表面元素分布情况，越亮的区域，原子序数越高。 第
二、看表面形貌，电子成像，亮的区域高，暗的区域低。非常薄的薄膜，背散射电子会造成假像。导电性差时，电子积聚也会造成假像。